NI PXI电源管理IC (PMIC)测试系统

描述：NI提供的各种产品，可在验证、特性化和生产环境中设计半导体测试系统。PXI平台提供的紧凑零占地(zero-footprint)测试系统，结合模块化仪器与高级定时和同步技术，可实现直流到6.6 GHz的多项测量。 NI PXI电源管理IC (PMIC)测试系统包含多款用户需要的重要仪器，可对DC-DC转换器、低压差线性稳压器(LDO)、显示激励器和其它电源管理设备进行完整的特征记述。系统中，源测量单元(SMU)可实现常用DC参数测量（开路/短路、泄漏测试），高精度数字化仪和高分辨率任意波形发生器可实现模拟测量，高速数字I/O可借由常用通信协议（SPI、I2C、JTAG）控制PMIC测试模式，开关模块能够将DC仪器路由至多个测试点。 PXI PMIC测试系统解决方案向用户提供在PMIC设备上进行常见测量的仪器，如：开路/短路、待机电流、转换器效率、线路与负载调节、电源抑制比(PSRR)。结合NI LabVIEW软件的这个方法可快速自定义用户系统，继而引入特定测量帮助用户对电源管理设备进行特征记述。借助NI系统工程师编写的实例程序快速启动并运行，实现设计特征记述中至关重要的常见测量。
下载地址： http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zhs/nid/207104