NI PXI微机电 (MEMS)测试系统

描述：NI提供的各种产品，可在验证、特性化和生产环境中设计半导体测试系统。PXI平台提供的紧凑零占地(zero-footprint)测试系统，结合模块化仪器与高级定时和同步技术，可实现直流到6.6 GHz的多项测量。 NI PXI微机电(MEMS)测试系统包含的重要仪器，能够对MEMS加速计、陀螺仪、麦克风进行完整的特征记述。系统中，源测量单元(SMU)可实现常用DC参数测量（开路/短路、泄漏测试），高精度数据采集模块可在广阔的动态范围内实现精确的声音与振动测量，高速数字I/O可借由常用通信协议（SPI、I2C、JTAG）连接MEMS设备，开关模块能够将DC仪器路由至多个测试点。 PXI MEMS测试系统解决方案向用户提供所需仪器，在MEMS设备上进行开路/短路、待机电流、参考IDD、正/负连续性测试、泄漏电流、输入和输出逻辑阈值、动态测量等常见测量。结合NI LabVIEW软件的这个方法可快速自定义用户系统，继而引入特定测量帮助用户对MEMS设备进行特征记述。借助NI系统工程师编写的实例程序快速启动并运行，实现设计特征记述中至关重要的常见测量。
下载地址： http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zhs/nid/207106