NI PXI数模转换器 (DAC)测试系统

描述：NI提供的各种产品，可在验证、特性化和生产环境中设计半导体测试系统。PXI平台提供的紧凑零占地(zero-footprint)测试系统，结合模块化仪器与高级定时和同步技术，可实现直流到6.6 GHz的多项测量。 NI PXI数模转换器(DAC)测试系统包含的重要仪器，可对配有最高16位分辨率和200 MS/s采样率的DAC进行完整特征记述。系统中，高速数字I/O可将测试模式生成至DAC并且生成常用通信协议（SPI、I2C、JTAG），数字化仪能够捕捉DAC的模拟输出，源测量单元(SMU)适合常用DC参数测量（开路/短路、泄漏测试），开关模块能够将DC仪器路由至多个测试点。 NI PXI DAC测试系统解决方案提供的仪器，既适合在DAC上进行常见测量（如：INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ），也适合进行电压高/低阈值测试。结合NI LabVIEW软件的这个方法可快速自定义用户系统，继而引入特定测量帮助用户对DAC进行特征记述。借助NI系统工程师编写的实例程序快速启动并运行，实现设计特征记述中至关重要的常见测量。
下载地址： http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zhs/nid/207103