本演讲主题介绍包括物理层、链路层和数据层测试挑战及泰克为简化和改进当前最关键的串行标准检定、检验和一致性测试推荐的解决方案。演讲覆盖泰克公司高端的示波器，逻辑分析仪，信号发生器等优秀产品，范围涉及高速串行、PCI Express 2.0和SATA II/III测试技术、HDMI/Displayport测试技术以及验证和调试DDR2, DDR3, 和FB-DIMM存储器设计等多个领域。

针对嵌入式设计和通用测试，泰克最新推出新款数字荧光示波器，配备了串行数据标准自动测试工具。此款新产品提供了极佳的经济性和便利性，节省了工程师宝贵的时间并可有效降低新产品设计调试的成本。

调试和验证，是示波器的两大功能。我们将着眼于这两大功能进行详细阐述：在调试方面，按照工程师进行调试的步骤，即“发现问题——定位问题——分析问题”，结合数字荧光示波器的特点，讲解如何提高调试的效率；在验证方面，结合信号保真度、采样率和存储深度以及分析套件等对测试的影响，介绍如何选择合适的工具完成电路验证。

亲自动手，用泰克示波器解决实际问题，并赢得精美礼品。

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由于无线通信中,各种时变和瞬变信号越来越多的被采用, 泰克独有的实时频谱技术随之受到前所未有的关注. 实时频谱仪已经从通常概念的频谱测试仪发展成为涵盖多种应用领域的实时信号分析仪. 泰克将介绍实时技术原理;实时产品系列; 实时信号分析仪在国防电子领域的应用, 如雷达相参测试, 线形调频雷达线性度测试, 同频及瞬态故障排查, 跳频电台测试, 无线电侦测中的同频信号侦测与瞬态信号的捕获; 以及民用通信领域的应用, 如RFID, WIMAX, ZIGBEE, EMI,3G,4G,测试。

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随着技术的进步，系统化测试成为现代测量方法的重要发展方向之一。传统的测试手段渐渐很难甚至不再能够满足新兴技术对测试的要求。从信号的产生、采集到分析，我们都需要一些新的手段来满足这些需求。本部分内容将着眼于高速数字信号、复杂模拟信号、宽带射频信号的测试瓶颈，介绍泰克在激励产生、信号采集和结果分析方面的系统化解决方案。

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设计工具和电子设计自动化(EDA)软件的发展，使得设计团队能够处理更加复杂的设计，同时保持或缩短要求的设计时间。由于100多万个门数、高效的设计工具及产品开发周期优势，FPGA正广泛用于当前许多系统中，实现了大部分功能。设计工具的发展，允许以更高的抽象水平完成设计，更迅速地合成复杂的设计，在更短的时间内完成布局和布线周期。随着FPGA设计的完善程度和复杂程度不断提高，FPGA调试技术也需要类似的发展。为跟上FPGA更高的调试需求，必须使用新工具，优化实时FPGA调试。
通过FPGAView™这样的解决方案，您可以随时切换测试点，而不需重新编译。同时， 其能够把内部FPGA信号活动与板卡级信号关联起来，直接决定着您是如期完成设计、还是错失产品开发周期。

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本课程将介绍一种快速、实用、可重复和客观的测量方案，以代替图像质量主观评价方法。如果您正在设计、优化和检验数字视频设备或系统使用的编解码器，您将发现这一方案非常实用。

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随着技术的进步，系统化测试成为现代测量方法的重要发展方向之一。传统的测试手段渐渐很难甚至不再能够满足新兴技术对测试的要求。从信号的产生、采集到分析，我们都需要一些新的手段来满足这些需求。本部分内容将着眼于高速数字信号、复杂模拟信号、宽带射频信号的测试瓶颈，介绍泰克在激励产生、信号采集和结果分析方面的系统化解决方案。

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